非正态过程能力分析与控制在电子制造业中的应用

发布时间：2017-10-25 11:28

  本文关键词：非正态过程能力分析与控制在电子制造业中的应用

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【摘要】：统计过程控制理论(Statistical Process Control,SPC)是一种能够推动质量发展的有效理论,对质量的持续改进做出了巨大的贡献。统计过程控制理论的应用条件是采集到的质量数据值要遵从正态分布,然则在很多制造企业中,收集到的质量数据值并不遵从正态分布。针对非正态分布的质量特性值,运用传统的SPC控制将会失去控制的意义,传达虚假错误的信息,致使产品的不合格品率增加。因此对非正态数据的过程能力分析与控制问题已经是迫切需要研究的问题。首先,对常规统计控制图与过程能力分析作了一定的理论知识阐述。结合电子元器件生产的非正态工艺参数特点,将SPC相关的技术引入,为下文构建模型奠定基础。其次,结合Chan提出的偏度校正(SC)控制图的理论和Castagliola提出的比例加权方差(SWV)控制图的理论,运用Minitab产生非正态随机模拟数据,验证所提出的非正态控制图的可行性。另外,在过程能力分析上,结合蒙特卡洛模拟法,运用箱线图对比五种非正态过程能力方法,找出最适合的模型方法。通过对非正态过程能力分析与控制详细研究,构建非正态下偏正校正控制图和Johnson过程能力转换法相结合的模型,能够对统计过程控制体系进行完善。最后,将构建模型应用到电子制造业生产的关键工序—芯片贴装,运用Minitab进行仿真监控,验证了所构建模型的有效性,其能够解决实际应用中出现非正态下的过程能力分析与控制问题。本文提供的方法对提高产品质量具有重要的理论意义和实际意义。
【关键词】：非正态过程 蒙特卡洛模拟 控制图 过程能力分析
【学位授予单位】：沈阳大学
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2016
【分类号】：TB114.2;TN05
【目录】：

• 摘要5-6
• Abstract6-10
• 第1章 绪论10-22
• 1.1 选题背景和研究意义10-12
• 1.1.1 选题背景10-11
• 1.1.2 研究意义11-12
• 1.2 国内外研究现状12-20
• 1.2.1 相关文献分析12-13
• 1.2.2 学术趋势分析13-15
• 1.2.3 非正态控制图的研究综述15-17
• 1.2.4 非正态过程能力指数研究综述17-20
• 1.3 论文研究内容与方法20-22
• 第2章 非正态能力分析与过程控制的理论介绍22-35
• 2.1 过程控制的基本理论22-26
• 2.1.1 控制图的基本概念22-23
• 2.1.2 控制图的绘制过程23-25
• 2.1.3 控制图的判断准则25
• 2.1.4 控制图对过程控制的意义25-26
• 2.2 过程能力的基本理论26-30
• 2.2.1 过程能力的基本概念26-27
• 2.2.2 过程能力指数计算27-29
• 2.2.3 过程能力指数评价29-30
• 2.3 电子制造业中存在的非正态工艺参数30-31
• 2.4 非正态控制图与非正态过程能力指数的相关综述31-33
• 2.4.1 非正态控制图介绍31-32
• 2.4.2 非正态过程能力指数介绍32-33
• 2.5 本章小结33-35
• 第3章 非正态过程控制图理论35-48
• 3.1 基于偏度校正的非正态控制图35-41
• 3.1.1 偏度校正控制图的原理35-37
• 3.1.2 基于偏度校正的均值-极差控制图37-40
• 3.1.3 Minitab模拟数据研究40-41
• 3.2 基于比例加权方差的非正态控制图41-45
• 3.2.1 比例加权控制图的原理41-43
• 3.2.2 基于比例加权方差法的均值控制图43-45
• 3.3 均值-极差控制图比较45-47
• 3.4 本章小结47-48
• 第4章 非正态过程能力评价模型48-69
• 4.1 过程能力指数与成品率之间的关系48-52
• 4.1.1 过程能力指数C_(pk)与成品率关系概述48-50
• 4.1.2 非正态过程下等效过程能力指数评价50-52
• 4.2 非正态过程能力分析模型介绍52-59
• 4.2.1 基于Box-Cox转换模型的过程能力分析52-56
• 4.2.2 基于Johnson转换模型的过程能力分析56-59
• 4.2.3 基于Cs转换模型的过程能力分析59
• 4.3 基于蒙特卡洛模拟下的过程能力分析比较59-64
• 4.3.1 蒙特卡洛模拟介绍59-60
• 4.3.2 确定模拟的分布60-62
• 4.3.3 蒙特卡洛模拟运行62-64
• 4.4 基于箱线图过程能力结果分析64-68
• 4.4.1 箱线图基本理论64-65
• 4.4.2 箱线图结果分析比较65-68
• 4.5 本章小结68-69
• 第5章 非正态过程能力分析与控制在电子制造业中的应用69-79
• 5.1 企业背景69-73
• 5.2 案例分析73-78
• 5.3 本章小结78-79
• 第6章 结论与展望79-81
• 6.1 结论79-80
• 6.2 展望80-81
• 参考文献81-84
• 在学期间研究成果84-85
• 致谢85-86

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本文编号：1093526