射频磁控溅射法制备GZO:Ti薄膜的微结构及其光学性质
本文选题:镓钛共掺杂氧化锌(GZO 切入点:Ti)薄膜 出处:《光电子·激光》2017年11期
【摘要】:采用射频(RF)磁控溅射工艺于玻璃衬底沉积了镓钛共掺杂氧化锌(GZO:Ti)半导体薄膜,研究了沉积温度对薄膜微观结构和光学性质的影响。通过X射线衍射仪(XRD)和紫外分光光度计对其晶体结构和透射光谱特性进行表征,同时利用光谱拟合法获取了薄膜的光学常数。研究结果表明,所有薄膜均具备六角纤锌矿结构和c轴择优取向特性,沉积温度对薄膜的微结构参数、光学常数和光学带隙具有明显调控作用,当沉积温度为653K时,GZO:Ti薄膜的晶粒尺寸最大(82.12nm)、位错密度最低(1.48×10~(-4) nm~(-2))、微应变最小(0.001 4)、可见光区平均透射率最高(82.06%)及光学带隙值最大(3.57eV)。
[Abstract]:Gallium and titanium co-doped ZnO GZO / Ti semiconductor thin films were deposited on glass substrates by RF magnetron sputtering. The effect of deposition temperature on the microstructure and optical properties of the films was investigated.The crystal structure and transmission spectrum of the films were characterized by X-ray diffractometer (XRD) and ultraviolet spectrophotometer. The optical constants of the films were obtained by spectral fitting method.The results show that all the films have hexagonal wurtzite structure and c-axis preferred orientation, and the deposition temperature has a significant effect on the microstructural parameters, optical constants and optical band gaps of the films.When the deposition temperature is 653K, the maximum grain size is 82.12nm / m, the lowest dislocation density is 1.48 脳 10 ~ (-4) nm ~ (-2), the minimum strain is 0.001 ~ (4), the highest average transmittance in visible region is 82.06), and the maximum optical band gap is 3.57 EV ~ (-1).
【作者单位】: 湖北民族学院理学院;湖北民族学院信息工程学院;
【基金】:国家自然科学基金(11504101,11364018)资助项目
【分类号】:O484
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,本文编号:1697932
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